华普科普栏目丨波长色散型X射线荧光光谱仪的照射方式

波长色散型X射线荧光光谱仪的照射方式可分为上照式和下照式两种光学结构。

上照式光学结构即X光管在样品上方，下照式光学结构即X光管在样品下方。

下照式光学系统

上照式光学系统

上照式X荧光光谱仪和下照式X荧光光谱仪都能对液体样品、固体样品、粉末样品、不规则样品或少许稀松粉末进行元素分析。两类仪器在光学空间结构和光学元器件一致的情况下，精度没有区别。

针对固体和液体样品的测试，基于两类仪器配置的样品盒结构不同，下照式仪器装样更简单。其中，液体样品的测试需要在氦气下进行。

针对粉末样品，一般需要用压片法或者熔片法做前处理。当分析压片时，一旦粉末样品未压紧，稀松的样品粉末在重力和真空作用下，会进入到下照式的仪器的光谱室或光管，造成不可逆的污染，而采用上照式的仪器即可完全避免粉末样品对分析腔和X光管的污染。

在分析熔片时，如果玻璃熔片处理不当，在分析过程中，可能开裂掉落，大的碎块直接损害下照式的仪器X光管，若使用上照式的仪器，碎块就会掉落到样品盒里，更加安全可靠。

综上所述，粉末样品的测试上照式仪器更安全，更有优势；固体和液体样品，下照式仪器装样更简单。