波长色散X荧光光谱仪 ZSX Primus III+在软磁材料中的应用

软磁材料即具有低矫顽力和高磁导率的磁性材料。软磁材料易于磁化，也易于退磁，广泛用于电工设备和电子设备中。其发展促进了我国移动通讯、光伏新能源、新能源汽车及其充电设施、云计算、大数据、人工智能等新兴产业的发展，也使家用电器、电脑及其外设、节能照明、电磁兼容、工业自动化等传统产业长久不衰。

高纯氧化铁是生产软磁材料的主要原料，氧化铁中主成分和杂质元素的含量直接影响该产品的质量和级别。该材料主量氧化铁含量在 99.x％，杂质Al₂O₃等含量低达 0.00x％。传统采用ICP方法检测氧化铁中SO₄ ^2-、CaO、SiO₂、Al₂O₃、MnO，采用化学法测定Fe₂O₃ 、 Cl ^-的含量。整个分析过程工作量大、周期长、人为误差大。XRF法具有能测定主量氧化铁和微量杂质，且简便快速、成本低、人为误差小的优势，在对软磁铁氧体的分析中应用广泛。

由于主量元素高达 99．x％，要求分析精度相当高，而次量元素皆轻元素，SiO2、A12O3只有几十ppm，又要求多元素连续测定，粉末压片法是唯一可选办法。由于直接压片成型率低及主量元素精度较差，故采用加入粘结剂。

日本理学ZSX Primus III+波长色散X荧光光谱仪采用上照式方式即光管在样品上方，能够避免粉末压片样品上的粉末微尘掉落到光管以及分光室中，造成损坏，确保了仪器的安全。

ZSX Primus III+波长色散X荧光光谱仪

为验证方法的精密度，在一倜月内的不同日期、不同操作人员对3个样品各进行了15次测量，每次間隔1～10天不等，结果如下。不同样品、日期及不同操作人员分析结果