物理材料实验室设备-华普通用

日本理学同步热分析仪DSC8231-华普通用

日本理学同步热分析仪DSC8231测量体重变化和吸热或放热反应
日本理学差示扫描量热仪DSC8231-华普通用

差示扫描量热仪DSC8231差示扫描量热法（DSC）量化熔化、转变、结晶和玻璃化转变温度等反应中的能量变化，主要用于研发;以及聚合物、制药领域的质量控制。
福禄克Raynger 3i Plus手持式红外测温仪-华普通用

Raytek® Raynger 3i Plus 高温手持式红外测温仪设计用于满足众多工业应用中的过程性能要求，包括原生和再生金属加工以及石化和发电厂运行的苛刻的高温环境。
福禄克Raytek® MP150 高速线扫描红外测温仪-华普通用

雷泰MP150红外行扫描仪是专为使用在高要求的工业环境中使用，并可以测得运动物体的准确温度图像。
福禄克ThermoView TV40 工业固定式热成像系统-华普通用

全天候监控您的工艺、产品和生产现场
功率器件动态参数测试系统DT10-华普通用

专业测试SiC及Si基IGBT、MOSFET动态时间参数特性，测试范围可达3500V 4000A
Keithley 4200A-SCS半导体参数分析仪-华普通用

使用 4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪，提供同步电流电压
TSI POWERSIGHT固体激光器的激光多普勒测速仪LDV-华普通用

TSI的一维、二维或三维（1D,2D或3D）激光多普勒测速（LDV）系统，包含新型的PowerSight固态激光器，绝对让您耳目一新。该款全新增强型系统整合了PowerSight模块，该模组由最新型固态激光器
Chroma Model3650 SoC测试系统-华普通用

Chroma 3650可在一个测试头中，提供最多512 个数位通道，并具备高产能的平行测试功能，最高可同时测试32 个待测晶片，以提升量产效能。
BUCHI Pure 制备色谱系统-华普通用

Pure色谱仪非常的紧凑，确保最高水平的安全性并且易于应用在Flash快速分离和HPLC样品制备中。
档案扫描美化系统-华普通用

本系统为图像处理系统，可将文档上的黑色装订孔以及黑边等自动处理
福禄克Raytek® Compact MI3 红外测温探头/高温计-华普通用

雷泰MI3红外温度传感器代表在连续非接触式温度监测的新一代的性能和创新，并广泛应用于OEM应用和制造工艺中。