扫描电镜_扫描电子显微镜_场发射扫描电镜-华普通用

日本理学ZSX Primus 波长色散X射线荧光光谱仪

理学ZSX系列中最新的仪器，ZSX Primus沿袭了及时提供精确结果的传统，无与伦比的可靠性，灵活性和简便性适合当今实验室的各种挑战
日本理学ZSX Primus III+ 波长色散X射线荧光光谱仪

X射线管位于分析样品上方，最大程度减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险，并且无需在进行粉末样品并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂，使样品制备更快捷简便。
日本理学ZSX Primus IV 波长色散X射线荧光光谱仪

理学扫描型波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus IV采用独特的上照射设计，完美契合粉末样品测试需求，可以快速定量分析从Be（铍）到U（铀）的各种类型样品的成分分析。
日本理学Supermini 200波长色散型X射线荧光光谱仪

Supermini200拥有改良的软件功能和更为小巧的机身。作为台式顺序WDXRF，可以分析几乎任何材料中从氧（O）到铀（U）的元素。理学的Supermini200提供了低成本，高分辨率和低检出限。
日本理学Simultix 15波长色散X射线荧光光谱仪

理学Simultix 15波长色散X射线荧光光谱仪，作为一款功能强大的元素分析分析工具，广泛用于高吞吐量和精度的行业（例如钢铁和水泥）的过程控制和品质管控。
日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF 3760-华普通用

全反射 X 射线荧光光谱仪表面污染计量测量离散点的元素污染或使用完整的晶圆图
日本理学连续波长色散X射线荧光光谱仪ZSX Primus 400-华普通用

Rigaku 独特的 ZSX Primus 400 连续波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪专为处理非常大或重的样品而设计。
日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF-V310-华普通用

日本理学全反射 X 射线荧光光谱仪TXRF-V310通过 VPD-TXRF 进行晶圆表面污染测量超痕量元素表面污染的测量
日本理学MiniFlex 600 台式X射线衍射仪-华普通用

理学台式X射线衍射仪系统将重新定义你所认为的X射线衍射仪方式。
理学波长色散型X射线荧光光谱仪 ZSX Primus IVi

理学波长色散型X射线荧光光谱仪ZSX Primus IVi，采用下照式光路结构，能够对液体、合金和电镀金属等样品进行无损分析。ZSX Primus IVi为分析最复杂的样品提供了卓越的性能和灵活性。
理学波长色散型X射线荧光光谱仪 ZSX Primus IIInext

理学新一代波长色散型X射线荧光光谱仪ZSX Primus IIInext，采用理学独特的光路结构，使其成为质量和生产控制等应用中通用XRF的理想选择。
日本理学波长色散X射线荧光光谱仪WDA 3650-华普通用

波长色散X射线荧光光谱仪WDA-3650用于薄膜评估的X射线荧光分析仪同时对各种薄膜的薄膜厚度和成分进行无损、非接触式分析